英语缩略词“BIST”经常作为“Built In Self Test”的缩写来使用,中文表示:“内置自检”。本文将详细介绍英语缩写词BIST所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词BIST的分类、应用领域及相关应用示例等。
以上为Built In Self Test的英文缩略词BIST的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
This method can be appped to the built in self test of equipment and accomppsh on pne fault detection of period signals.
该方法可应用到设备内部自测试中,并可完成周期信号的在线故障检测。
According to the 8K SRAM module of SOC, a BIST ( built in self test ) circuit design based on the March C-algorithm was discussed.
针对某SOC中嵌入的8KSRAM模块,讨论了基于MarchC-算法的BIST电路的设计。
With the fast growing portable electronics market and higher need of wafer test, power consumption problem of built in self test ( BIST ) has attracted more and more considerations.
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。
Template content research of built - in self test
软件内建自测试系统中模板的研究
Abstract This paper presents a new structure of Analog Built - In Self - Test circuit ( ABIST ) consisting of analog multiplexers.
本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路ABIST的一种新结构。
上述内容是“Built In Self Test”作为“BIST”的缩写,解释为“内置自检”时的信息,以及英语缩略词BIST所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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