英语缩略词“SFM”经常作为“Scanning Force Microscopy”的缩写来使用,中文表示:“扫描力显微镜”。本文将详细介绍英语缩写词SFM所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词SFM的分类、应用领域及相关应用示例等。
以上为Scanning Force Microscopy的英文缩略词SFM的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。
In this thesis, Scanning Force Microscopy(SFM) ( SFM ) was used to study the nanoscale electric phenomena of the surface and interface properties of ferroelectric thin films.
本论文利用扫描力显微镜(SFM)研究了铁电薄膜表面与界面的电势及电畴等微区性质。
Study on nano-meter scale observation of latent tracks induced by ions are discussed using scanning tunnepng microscopy ( STM ) and scanning force microscopy ( SFM ).
综述了近年来用扫描隧道显微镜(STM)和扫描力显微镜(SFM)(SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展。
Latent ion track contrast of scanning force microscopy
扫描力显微镜(SFM)图象中离子潜径迹的表现形式
New Developments of Scanning Force Microscopy(SFM)
扫描力显微镜(SFM)研究进展
Glass-to-rubber transition of polymer film analyzed by scanning force microscopy
扫描力显微术在高聚物薄膜玻璃化转变研究中的应用
上述内容是“Scanning Force Microscopy”作为“SFM”的缩写,解释为“扫描力显微镜”时的信息,以及英语缩略词SFM所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。
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