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“WLT”是“Wafer-Level Test”的缩写,意思是“晶片水平测试”

“WLT”是“Wafer-Level Test”的缩写,意思是“晶片水平测试”



英语缩略词“WLT”经常作为“Wafer-Level Test”的缩写来使用,中文表示:“晶片水平测试”。本文将详细介绍英语缩写词WLT所代表英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度。此外,还有关于缩略词WLT的分类、应用领域及相关应用示例等。

“WLT”( 晶片水平测试 )释义

  • 英文缩写词:WLT
  • 英文单词:Wafer-Level Test
  • 缩写词中文简要解释:晶片水平测试
  • 中文拼音:jīng piàn shuǐ píng cè shì
  • 缩写词流行度:504
  • 缩写词分类:Academic & Science
  • 缩写词领域:Electronics

以上为Wafer-Level Test的英文缩略词WLT的中文解释,以及该英文缩写在英语的流行度、分类和应用领域方面的信息。

英文缩略词WLT的扩展资料

    X-rays, as a new radiation source, has the advantages such as safety, precise control of dose rate, strong intensity, possibipty of wafer-level test or even on - pne test, which greatly reduce cost for package, test and transportation.
    X射线作为辐射源具有安全、剂量率控制准确等优点,可进行硅片级的测试甚至在线测试,从而大大降低封装、测试、运输的成本,提高研发效率。

    Standard wafer-level electromigration acceleration test ( SWEAT );
    标准圆片级电迁移加速测试技术;

上述内容是“Wafer-Level Test”作为“WLT”的缩写,解释为“晶片水平测试”时的信息,以及英语缩略词WLT所代表的英文单词,其对应的中文拼音、详细解释以及在英语中的流行度和相关分类、应用领域及应用示例等。

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